x荧光光谱分析仪

仪器简介：
    SPECTRO MIDEX是德国斯派克推出的全新x荧光光谱分析仪，是一可满足当前4大类X-射线分析要求的平台，即衍射、散射、反射和CT影像X射线分析平台，样品可以是粉末，薄膜，纳米材料，块状材料。它拥有新开发的X光管，较先进的测角仪的、*特的新样品台和严格的辐射安全防护。世界上**个衍射平台上的三维探测系统， SPECTRO MIDEX探测器将使用于这一多功能的X-射线衍射系统上，将面探测技术与CT技术平民化。
 
技术参数：
高压发生器功率：4kW
测角仪重现性：0.0001度
可控较小步进：0.0001度
 
SPECTRO MIDEX的优势：
统一的平台和仪器，无论作何应用均不影响数据质量
样品范围齐全
较佳性能测角仪
**的光管性能
可靠的预校准光学器件
种类和范围较广泛的样品台（包括非常温环境样品台）
操作方便，可快速重新配置
**的二维（2D）探测器动态范围、线性和分辨率
灵活的高新能软件包
完善的技术支持

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