等离子体光谱仪

SPECTRO ARCOS等离子体光谱仪

SPECTRO ARCOS全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪仪器简介：
适应性较强的耐HF酸进样系统 
**强的耐高盐、耐酸碱性能 

SPECTRO ARCOS标准配置的雾化系统为强耐腐蚀的配置。 
雾化器为正交雾化器，其特点是高盐分进样时不会堵塞，可以直接进饱和食盐水溶液！此外在雾化器喷嘴装有耐腐蚀的宝石喷嘴，使其具有较强的耐HF、碱、王水、**溶剂的能力！ 
雾室采用耐腐蚀的Ryton**技术制成，耐高浓度的HF、碱、王水、**溶剂，且这种雾室物理强度大，不象玻璃雾室那么易碎，灵敏度高，稳定性好，记忆效应低。 
总之，SPECTRO ARCOS进样系统没有更换雾室的繁琐操作，可进行50%HCl、HNO3、H2SO4、20%HF及30%NaOH分析，一套进样系统相当于其它公司的标准配置进样系统 ＋ 一套**进样系统＋ 一套耐HF进样系统 ＋ 一套耐高盐进样系统。 

较简洁的设计实现较容易的维护 
双开门设计ICP进样系统不仅使雾室和等离子炬拆卸方便，而且在点火工作状态下可以进行调整，同时射频发生器的射频辐射防护较为全面，射频辐射泄漏在业界较小。 
搭扣设计使拆卸非常方便，*拆下样品仓即可拆卸、清洗或更换进样中心管。 
双开门设计还隔绝了等离子体高温对雾化器和雾室温度的影响，提高了仪器的稳定性。 
一体化的进样系统和卡口式的设计使得进样系统的拆卸较为方便，只需用手而*使用任何**工具即可在1分钟内完成。 
SPECTRO ARCOS的进样系统通道短，因此大大减少了样品流经管道的时间，软件具有**的Smart Rinse功能，智能化地决定样品间的冲洗时间。 

较优异的性能 
提供的检出限都是在仪器标准配置的耐HF酸宝石喷嘴正交雾化器和耐HF酸的Ryton材料Scott雾室上做出的数据，如果用户的样品绝不含有HF酸和高盐份，则也可以选择同心雾化器和旋流雾室，检出限能够得到进一步的改善。 

较先进的射频发生器—— 
固态射频发生器 
全新设计的40.68MHz自激式发生器采用新一代的固态电路技术，整个发生器主体仅为一块高集成化的线路板，无功率管等发热部件，元器件寿命比功率管高10倍以上，可靠性强、稳定性好、能量耦合效率高，仪器体积也大大减小。 

40.68MHz激发频率的射频发生器 
众所周知，随着频率的增加，振荡器产生的能量能更有效地传递到等离子体，传输效率大大提高，使点火更容易，并可采用小功率以减少背景噪音和延长发生器的寿命。同时，等离子体对样品的适应性更好，不会在样品改变时灭火。此外，由于中心通道的变宽，可以使用大孔径的进样管，使得高盐样品不堵塞。因而采用40.68MHz激发频率要远优于27.12MHz。 
采用40MHz 自激式高频发生器，高频发生器完全按照仪器具体要求进行设计，和仪器**的组合为一体，达到较佳的表现性能。完全避免了由于不同厂家的产品所造成的不匹配。 
自激式射频发生器 
自激式发生器结构简单，匹配速度快，传输效率高，工作状态更加稳定，避免了晶控它激式发生器由于响应速度慢而导致的不稳定和灭火现象。 
SPECTRO ARCOS采用功率实时监控和反馈技术克服了外界电压变化引起的漂移和不稳定，实现了功率的1W连续可调，可满足不同分析的需要，远优于其它大步长变化功率的厂家。 

较全面的控制 
SPECTRO ARCOS在系统中采用了全新的电子控制技术，使用了多个CPU独立控制仪器各个部分。大规模集成电路和模块化的设计，使仪器故障率较低。  


较成功的双向观测ICP-OES 

侧向观测、轴向观测的优点与不足 
众所周知，采用轴向观测的检出限比侧向观测可改善达10倍。在大量基体存在时，绝大多数元素的检出限会得到明显改善，这对分析痕量元素十分有利，例如测定钢铁中痕量As、Sb等有害元素时，轴向观测就充分显示了其优越性。 
但由于轴向观测时光强呈数量级地增加，如果只有轴向观测，则测量高含量的元素时只能选择次灵敏线，但这常常会受到限制，例如Na含量较高时 589.583nm谱线强度过高，而其330nm谱线受到Zn的强烈干扰，因此在分析高含量元素时采用侧向观测较为合适。传统垂直观测型ICP-OES的不足是测定不同的元素时需要优化不同的观测位置。 

较成功的双向观测 
采用**的双向观测技术，使用户可以在一次分析中同时获得两种观测方式的优点，无论是轴向观测还是侧向观测，其观测的位置全部由计算机自动优化，并有简洁实用的空气切割技术消除尾焰，此外，光路中加入了衰减器，可自动进行轴向/侧向，全光/衰减等四种选择，不仅提高了灵敏度而且扩大了线性范围，大大增加了分析的灵活性，提高了分析性能。 

灵活易用的全中文高智能化操作软件 
简单易用、功能强大的中文软件 
基于Windows?XP的WinLab 32操作系统，功能强大，支持真正的多任务、多用户操作；原始数据具有不可覆盖性，对原始数据所作的所有合法修改均有记录，在出具检验报告时其数据具有合法性和可追溯性，满足法规要求及国际认证惯例。 
软件具有模拟运行和离线运行功能，尤其适合于教学和数据分析。 
仪器的操作完全实现自动化，包括观测方向及高度选择、气体流量控制、RF功率调节、故障诊断等。 
自动调节积分时间，每次测量前根据预曝光得到的信号强度自动选择合理的分析时间，积分时间较小可达1ms。 
业界较全的50000条谱线库和软件定性、半定量功能大大增强对未知样品的剖析能力。 
具有同时扣背景的能力，对于复杂样品还可以使用方便、有效、可靠的谱线干扰扣除功能MSF。 

**的谱线解析功能－多谱拟合技术（MSF） 
*有的扣除光谱干扰功能，解决了ICP-OES分析复杂基体样品中的谱线干扰问题。其原理是利用现代化学计量学和多元线性回归算法，在分析复杂基体样品时，通过数学模型将分析谱线从干扰光谱中剥离出来。 
由于只需保持峰型稳定，所以该模型通常与样品浓度及特定的离子状况等无关，因此实际应用非常方便，只需喷入空白溶液、待测元素溶液及干扰元素溶液即可。 
该方法不但扣除光谱干扰效果显着，还可提高信噪比，进一步改善检出限。 

扩展仪器功能的高级选项 
高精密度质量流量计选项 
进样系统的雾化气采用比转子流量计更先进的高精度质量流量计进行控制，不仅提高了精度，而且可以自动调节任意流量，较小步长为0.01升/分，对于不同样品的工作条件均可得到优化。 
   
形态分析选项、微区分析选项 
利用此选项，可以和FIAS、HPLC、GC、CE等仪器联用，实现砷、铬、汞、碲、硒、锡、铅、铜、锰、钒、铂、镍和溴等元素的形态分析。可以在一次分析中同时分析As、Se和Cr的形态。此外，和激光烧蚀（LA）联用，还可以对涂层、头发、多晶、矿石等进行微区和微表面分析。 

快速自动分析选项 
可达1260个样品位置，每小时分析**过500个样品，在ICP-OES读数分析时自动进样器取下一个样品，使得读数延迟的时间缩短到1秒。样品消耗量0.1毫升。

SPECTRO ARCOS全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪技术参数：
进样系统 
组合式设计快速可拆卸进样系统，具有预恒温系统。耐腐蚀配置： 50% （v/v）HCl，HNO3，H2SO4，H3PO4，20%（v/v） HF，30% （w/v）NaOH。 
炬管喷射管：2.0mm刚玉材料。 
雾化室：Ryton 材料耐腐蚀雾室。 
雾化器：正交雾化器，刚玉宝石喷嘴。 
蠕动泵：有智能冲洗功能。 


等离子体系统 
**的等离子体双向观测系统 
计算机控制自动切换观测方式 ；轴向、侧向观测位置由软件控制自动优化。独立双开门等离子体腔室，具有恒温系统，实现等离子炬在线可调。 


气路控制系统 
所有气体为全自动控制。 
雾化气由高精密质量流量控制器控制， 
流量0~2.0 升/分，增量0.01 升/分。 


射频发生器 
40.68MHz 自激式固态射频发生器，功率输出：750~1500瓦，增量 1瓦。 
稳定性： 实际功率波动 81% 能量传输效率。 
安全防护：符合 FCC 和EC VDE 0871 Class B 标准 
**命无消耗性部件。 


光学系统和检测器 
**的光强度自动分组技术，中阶梯光栅双光路色散分光系统与较先进的CCD检测器(U.S. Patent No. 4820048)，自动决定每一条谱线的爆光时间，一次分析获得所有谱线的强度，同时获得背景的信息。 
光谱范围：165nm~850nm。 
分辨率：200nm处0.003nm。 


软件 
全中文软件，全中文报告，全面的软件控制。 
**的多谱线拟合技术(U.S. Patent No. 5308982)。 


灵敏度 
旋流雾室和同心雾化器（单位：cps / ppm） 
Mn 257.610nm > 8.5×106，Al 396.153nm > 1×106，Ni 231.604nm > 3×105 
As 193.696nm > 1.5×104，Pb 220.353nm > 5×104，P 213.617nm > 3×104

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